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Uno mismo profesional de la interferometría de la luz blanca - calibración para la película estándar avanzada

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Tengo sus instrumentos y me impresione para la primera vista, él soy realmente muy conveniente para la operación.

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Uno mismo profesional de la interferometría de la luz blanca - calibración para la película estándar avanzada

Ampliación de imagen : Uno mismo profesional de la interferometría de la luz blanca - calibración para la película estándar avanzada

Datos del producto:

Lugar de origen:	Guangdong China
Nombre de la marca:	Rational
Certificación:	CE SGS ISO
Número de modelo:	Interferómetro de la luz blanca

Pago y Envío Términos:

Cantidad de orden mínima:	1 set
Precio:	Negotiable
Detalles de empaquetado:	Caso de madera del embalaje del vacío y de la fumigación libre
Tiempo de entrega:	Después de la señal recibida 5-15workdays
Condiciones de pago:	CARTA DE CRÉDITO, D/A, D/P, T/T
Capacidad de la fuente:	sistema 10000 por mes

Contacto

Descripción detallada del producto

Gama de medición:	100um (hasta 400um)	Vida de servicio media:	1000hours (100W) 500hours (150W)
Resolución:	0.1Nm	Potencia:	CA 100-240V 50/60Hz
Velocidad de lectura:	El 12um/s más rápido	Nombre de la marca:	Rational
Alta luz:	optical interferometry , optical surface profiler

Interferómetro de la luz blanca de AE-100M y Profilers superficiales ópticos

Escrito de producto:

Combinado con el microscopio y el interferómetro, el interferómetro de la luz blanca, con la medida 3D de la altura de la exploración vertical de 400um, es conveniente para la medida del esquema y del perfil de diversos materiales y de componentes micro. Este instrumento no necesita el programa enmendado por la luz compleja. Es ampliamente utilizado en la lente de cristal, la superficie de la película de la capa, la oblea, el disco, MEMS (electro sistema mecánico micro), el LCD plano, el PWB de alta densidad, IC que empaqueta, análisis material, la investigación superficial micro, el etc.

Características:

1. medida 3D para el objeto del nanoscale.
2. de alta velocidad y sin contacto.
3. análisis de la superficie, del perfil y de la aspereza.
4. materiales transparentes o no transparantes disponibles.
5. haz del No-electrón y medida de la seguridad no-laser.
6. mantenimiento barato.

Gráfico profesional 3D que procesa y que analiza el software (poste Topo):
1. interfaz persona-ordenador fácil de usar.
2. Uno mismo-calibración para la película estándar avanzada.
3. el análisis linear o el análisis regional está disponible al analizar profundidad y altura.
4. el análisis linear está disponible en la aspereza o la ondulación definida por el ISO.
5. 17 especificaciones de medición y 4 datos de medición adicionales disponibles.
6. el análisis regional está disponible en análisis gráfico o análisis de la estadística.
7. 2.o Fourier rápido transforma (FFT) que procesa la característica como alisar, la afiladura, y la onda digital de la filtración.
8. el resultado del análisis hizo salir en ficheros gráficos múltiples como el BMP, o en el formato de Excel por el interferómetro que analizaba software, ImgScan.

Software de análisis de interferencia de la precisión de alta velocidad y alta (ImgScan):

1. El hardware de sistema se configura con software del proceso previo de ImgScan analizar automáticamente la franja de la blanco-luz.
2. la altura de la vertical está hasta 0.1nm.
3. software computacional y que analiza de alta velocidad.
4. La disposición de la gama de la exploración vertical es fácil y simple.
5. la lente está disponible en 10X, 20X o 50X.
6. exhibición numérica del eje de X, de Y y de Z, que hace el objeto medido más rápido y más conveniente detectar.
7. el brillo automático manual está disponible adquirir la mejor comparación de la franja de la blanco-luz.
8. disponible en modo de la medida de la exploración de la alta precisión PVSI o modo de alta velocidad de la medida de la exploración de VSI.
9. Patented que analiza software es conveniente para medir el perfil 3D del objeto semitransparente.
10. punto de la Auto-reparación.
11 la dirección de exploración se puede fijar por el usuario.

Especificaciones:

Modelo	AE-100M
Tabla móvil (milímetro)	Tamaño: 100100, viaje: 1313
Ampliación de la lente	10X	20X	50X
Observando la gama de /Measuring (milímetro)	0.43*0.32	0.21*0.16	0.088*0.066
Resolución (μm)	0,92	0,69	0,5
Grados	17	23	33
Distancia de funcionamiento	7,4	4,7	3,4
La resolución del sensor	pixel: 640*480
Carga del peso (kilogramo)	20kg/menos que 1kg
viaje de Z-AXIS	45m m (manualmente el ajustar)
indicador digital de Z-AXIS	Resolución: el 1μm
Plataforma de ajuste inclinada	Ajuste del manual de Biax/
Medida de la altura
Gama de medición	100 (μm) (los 400μm. Configuración opcional)
Resolución	0.1nm
Exactitud repetida	≤ 0,1% (height>10μm de medición)
	≤10nm (height1μm de medición el 10μm)
	≤ 5nm (altura de medición <1>
Sistema de control de medición	Automático
Velocidad de exploración (μm/s)	12 (el más rápido)
Iluminación
Tipo	Lámpara del halógeno
Vida útil media	1000h 100W 500h (150W)
Brillo	Automáticamente/ajusta manualmente
La informática y ordenador
Exhibición de proceso y computacional de la central	TAZA dual de core+
Vídeo y exhibición de proceso de datos	17" pantalla LCD
OS	Windows XP (2)
Fuente de alimentación y requisitos ambientales	AC100 --240 V 50-60Hz
Vibración ambiental	VVC-C más nivel
Midiendo y analizando softwares
Software de medición ImgScan	Software de medición ImgScan: disponible en modo de medición de VSI/PVSI/PSI (el modo de medición de la PSI se debe configurar con el módulo de la PSI)
Analizar el software PosTopo	La aspereza del ISO/el análisis de la altura, el múltiplo 2.o y 3D Fourier rápido transforma. Observe el gráfico de la visión como esquema; esquema, área, y análisis del volumen; enfoque del gráfico; conversión del formato de archivo de vídeo. Divulgue la salida; programe la medida del seminario.